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Rasterelektronenmikroskopie von Kunststoffschäden. SEM of Plastics Failure

von Gottfried Ehrenstein, Lothar Engel

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ISBN-13: 978-3-446-42242-1
Schriftenreihe: Nein
Erscheinungsjahr: 2010
Verlag: Hanser Verlag
Ausgabe: 1. Auflage
Umfang / Format: 280 Seiten, mit 230 Abbildungen, zweisprachig deutsch-englisch, Hardcover
Medium: Buch

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Beschreibung

Der Einsatz von Rasterelektronenmikroskopen (REM) erweitert den Erkenntnisbereich für die Schadensforschung ganz wesentlich. Die hohen, mit REM erzielbaren Auflösungen in Brüchen und Oberflächenstrukturen lassen die Mechanik der Schädigungsvorgänge deutlicher erkennen. In Verbindung mit den Untersuchungsergebnissen über die chemische Zusammensatzung von Werkstoffen und Belägen können weitere Aufschlüsse über Schädigungsmechanismen gewonnen werden.

Diese umfangreiche Sammlung von REM Aufnahmen und ihren Beschreibungen ist ein wertvolles Hilfsmittel für den Ingenieur im Betrieb, der Ursachen von Schäden auffinden und sein spezielles REM Schadensbild einordnen will. Die Erscheinungsformen der Schädigungen sind ausführlich dargestellt und werden sachgerecht beschrieben und interpretiert.


ISBN-13: 978-3-446-42242-1
Schriftenreihe: Nein
Erscheinungsjahr: 2010
Verlag: Hanser Verlag
Ausgabe: 1. Auflage
Umfang / Format: 280 Seiten, mit 230 Abbildungen, zweisprachig deutsch-englisch, Hardcover
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Diesem Produkt sind folgende ISBN bzw. Artikelnummern zugeordnet:

ISBN-13: 978-3-446-42242-1
978-3446422421
EAN-13: 9783446422421